Шишкина С. В. 2(2017)

УДК 541.183.123

С. В. Шишкина, Е. А. Желонкина, Б. А. Ананченко

ИССЛЕДОВАНИЕ МИКРОРЕЛЬЕФА ПОВЕРХНОСТИ ГЕТЕРОГЕННЫХ ИОНООБМЕННЫХ

МЕМБРАН МЕТОДОМ АТОМНО-СИЛОВОЙ МИКРОСКОПИИ

      Методом атомно-силовой микроскопии изучен микрорельеф поверхности гетерогенных ионообменных мембран, содержащих в составе композита одни и те же материалы, но отличающихся технологией изготовления. Показано, что микрорельеф поверхности определяется как особенностями технологии (размер частиц смолы, горячее прессование или горячее вальцевание), так и природой противоиона. Заряд противоиона влияет на набухание ионообменника и, следовательно, на размер частиц, а также на размах высот микропрофиля. Двухзарядные противоионы меди снижают набухание ионообменной смолы, что при переводе мембраны в форму двухзарядных ионов приводит к расширению пор, щелей и микротрещин на границах зерен смолы и инертного связующего. Вклад глубины этих дефектов на поверхности мембран приводит к увеличению размаха высот микропрофиля. Было определено, что мембраны АМН и СМН производства Чехии имеют более развитый микрорельеф поверхности, чем российские мембраны МК-40 и МА-41.

      Ключевые слова: электроконвекция, гетерогенные ионообменные мембраны, шероховатость.